材料微觀結構分析
Microstructural Characterization of Materials
學期
106-1
學分
0
學分
當期課號
1344
永久課號
DMA3221
開課單位
材料科學與工程學系
授課教師
吳文偉
校區
光復
類別
選修
上課時間表
| 節 | 週二 | 週三 |
|---|---|---|
4 11:10–12:00 | 材料微觀結構分析 EF207（光復） | |
7 15:30–16:20 | 材料微觀結構分析 EF207（光復） 2 節連堂 | |
8 16:30–17:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
概述
使學生瞭解常用的材料結構分析方式、儀器及其原理,並體驗設備操作的方法。
先修科目
材料科學導論 普通物理 物理冶金
備註
無備註
教學方式
課堂授課 儀器觀摩
評分方式
Quiz and Homework: 20% Midterm Exam: 40% Final Exam: 40%
課程大綱
教師未提供此項資料
週次計畫
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | 簡介(Introduction) |
| 第 2 週 | 簡介(Introduction) |
| 第 3 週 | X光繞射分析儀 (X-ray Diffractometer, XRD) |
| 第 4 週 | X光繞射分析儀 (X-ray Diffractometer, XRD) |
| 第 5 週 | 掃描式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope, SEM) |
| 第 6 週 | 掃描式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope, SEM) |
| 第 7 週 | 掃描式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope, SEM) |
| 第 8 週 | 穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) |
| 第 9 週 | 期中考試 |
| 第 10 週 | 穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) |
| 第 11 週 | 穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) |
| 第 12 週 | 穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) |
| 第 13 週 | X光能譜分析儀 (X-ray Spectrometry) |
| 第 14 週 | 聚焦式離子束顯微鏡 (Focused Ion beam, FIB) |
| 第 15 週 | 實例及應用介紹 |
| 第 16 週 | 儀器觀摩及示範教學 |
| 第 17 週 | 儀器觀摩及示範教學 |
| 第 18 週 | 學期考試 |
教科書
材料分析,汪建民,中國材料科學學會。 材料電子顯微鏡學,陳力俊,國科會精儀中心。
Office Hours
- 地點
- EF 329
- 時間
- Mon. 13:00-15:00 Wed. 10:00-12:00
- 聯絡方式
- wwwu@mail.nctu.edu.tw