電子顯微鏡學
Transmission Electron Microscopy
| 節 | 週三 | 週五 |
|---|---|---|
3 10:10–11:00 | 電子顯微鏡學 EF201（光復） 2 節連堂 | |
4 11:10–12:00 | ||
5 13:20–14:10 | 電子顯微鏡學 EF201（光復） |
* 根據陽明交大上課時間表所列
從電子與固體相互之物理作用等基礎,了解電子顯微鏡影像、繞射圖型、化學成分量測在材料內部結構分析之原理。
普通物理、材料科學導論 需具有晶體結構之基礎(含point group、space group)等
無備註
免費軟體 ImageJ (NIH)、VESTA 、DigitalMicrograph (Gatan) 付費軟體 CrystalMaker American Mineralogist Crystal Structure Database
學期作業(30%)、考試(60%)、評量(比重10%)
教師未提供此項資料
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | INTRODUCTION、ELECTRON SOURCES、 LENS AND FOCUS |
| 第 2 週 | ELECTRON SCATTERING, SCANNING ELECTRON MICROSCOPY |
| 第 3 週 | SCANNING ELECTRON MICROSCOPY |
| 第 4 週 | DIFFRACTION |
| 第 5 週 | DIFFRACTION |
| 第 6 週 | 第1次期中考 |
| 第 7 週 | IMGAGIMG MODE BRIGH FILED AND DARK FIELD |
| 第 8 週 | IMAGING THEORY |
| 第 9 週 | DIFFRACTION CONTRAST |
| 第 10 週 | DIFFRACTION CONTRAST |
| 第 11 週 | PHASE CONTRAST HIGH-RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY |
| 第 12 週 | 第二次期中考 |
| 第 13 週 | SCANNING TRNASMISSION ELECTRON MICROSCOPY HAIGH-ANGLE ANNULAR DARK FIELD IMGAING - Z-CONTRAST |
| 第 14 週 | X-RAY ENERGY DISPERSIVE SPECTROSCOPY |
| 第 15 週 | X-RAY ENERGY DISPERSIVE SPECTROSCOPY |
| 第 16 週 | ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY |
| 第 17 週 | ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY |
| 第 18 週 | 期末考 |
1. Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science Williams, David B., Carter, C. Barry Springer 2009 2. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis Fourth Edition Authors: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy Springer 2018
- 地點
- 工程六館327室
- 時間
- 每星期三 下午4:30-5:10
- 聯絡方式