元件輻射效應概論
Radiation Effects in Electronics
| 節 | 週五 |
|---|---|
5 13:20–14:10 | 元件輻射效應概論 EE116（光復） 3 節連堂 |
6 14:20–15:10 | |
7 15:30–16:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
了解輻射在電子元件中所產生的可靠度問題, 提升電子元件於核能設施與宇宙應用的效能 To understand the hazardous effects and reliability issues caused by radiation in electronic devices and how to mitigate them for the applications such as nuclear power facilities and space.
基礎物理與半導體元件物理 Fundamental knowledge of physics and electronic devices
無備註
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Midterm exam (open note): 30% Final exam (open note): 40% Case Study: 30%
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| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | Introduction 2023-02-17(五) |
| 第 2 週 | Radiation Basics 2023-02-24(五) |
| 第 3 週 | Radiation Basics 2023-03-03(五) |
| 第 4 週 | Fundamental of Radiation Effects 2023-03-10(五) |
| 第 5 週 | Fundamental of Radiation Effects 2023-03-17(五) |
| 第 6 週 | SRIM & TRIM 2023-03-24(五) |
| 第 7 週 | SRIM & TRIM 2023-03-31(五) |
| 第 8 週 | Midterm 2023-04-07(五) |
| 第 9 週 | Total Dose Effects 2023-04-14(五) |
| 第 10 週 | Total Dose Effects 2023-04-21(五) |
| 第 11 週 | Soft Error 2023-04-28(五) |
| 第 12 週 | Soft Error 2023-05-05(五) |
| 第 13 週 | Single Event Effect 2023-05-12(五) |
| 第 14 週 | Radiation in Space 2023-05-19(五) |
| 第 15 週 | Case Study 2023-05-26(五) |
| 第 16 週 | Final Exam 2023-06-02(五) |
| 第 17 週 | 2023-06-09(五) |
| 第 18 週 | 2023-06-16(五) |
Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems, Eishi H. Ibe, Published by Wiley in 2015
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