2 項進行中

115-1 選課時程

進行中

  • 初選第一階段 6/15 – 6/18
  • 初選第二階段 6/22 – 6/25
  • 校際選修 進行中 8/24 – 9/18
  • 初選第三階段 8/31 – 9/3
  • 開學後加退選 進行中 9/7 – 9/21
  • 逾期加退選 9/21 – 9/24
選課資源

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元件電路計測實驗

Device and Circuit Characterization Laboratory

學期
112-2
學分
0 學分
當期課號
535214
永久課號
EEIE30004
開課單位
電子研究所
授課教師
郭治群
校區
光復
類別
選修
上課時間表
週四
5
13:20–14:10
元件電路計測實驗
ED201(光復)
3 節連堂
6
14:20–15:10
7
15:30–16:20

* 根據陽明交大上課時間表所列

概述

1. 了解各種精密阻抗、電壓、電容、電流測量儀器之原理,以及經由實習課程培訓測量儀器之操作與 數據分析。 2. 了解基本半導體元件特性以及物理參數之測量原理與擷取方法。

先修科目

已修畢半導體元件物理或同類課程一學期。

備註

無備註

教學方式

1. 每週兩小時教室課,解說參數擷取原理以及測試結構。 2. 每週兩小時實作教學,由助教示範儀器操作,之後個別找時間練習。 3. 限額40人,優先順序為:電研所學生、電機系學生、電研所甄試錄取生、電機學院學生、本校研究生、本校研究所甄試錄取生、外校學生。 TA : 禚鎮毅/ vincent89121.ee07@nycu.edu.tw

評分方式

期中考與期末考: 30% 儀器操作測驗(3次) : 40% 單元實驗報告,一組一份 : 30%

課程大綱

教師未提供此項資料

週次計畫
週次主題
第 1 週

Introduction to Low level measurement Probe station setup

2024-02-22(四) 時數:[2024-02-22]郭治群(2.00)
第 2 週

Sheet resistance &Contact Resistance Keysight/Agilent B1500A

2024-02-29(四) 時數:[2024-02-29]郭治群(2.00)
第 3 週

GPIB operation &Program control Lab view

2024-03-07(四) 時數:[2024-03-07]郭治群(2.00)
第 4 週

Schottky junction &pn junction Keysight/Agilent B1500A

2024-03-14(四) 時數:[2024-03-14]郭治群(2.00)
第 5 週

Independent practice

2024-03-21(四) 時數:[2024-03-21]郭治群(2.00)
第 6 週

Mid-term exam. (1) 1st operation examination (Keysight/Agilent B1500A, Program control)

2024-03-28(四) 時數:[2024-03-28]郭治群(2.00)
第 7 週

MOS capacitor characterization Keysight/Agilent B1500A

2024-04-04(四) 時數:[2024-04-04]郭治群(2.00)
第 8 週

MOSFET characterization &Mobility extraction Keysight/Agilent B1500A

2024-04-11(四) 時數:[2024-04-11]郭治群(2.00)
第 9 週

External resistance extraction Keysight/Agilent B1500A

2024-04-18(四) 時數:[2024-04-18]郭治群(2.00)
第 10 週

Independent practice

2024-04-25(四) 時數:[2024-04-25]郭治群(2.00)
第 11 週

Mid-term exam. (2) 2nd operation examination(Agilent 4284, Keysight/Agilent B1500A)

2024-05-02(四) 時數:[2024-05-02]郭治群(2.00)
第 12 週

Interface state extraction – CV method Keysight/Agilent B1500A

2024-05-09(四) 時數:[2024-05-09]郭治群(2.00)
第 13 週

Interface state extraction – Conductance method Keysight/Agilent B1500A

2024-05-16(四) 時數:[2024-05-16]郭治群(2.00)
第 14 週

Interface state extraction - Charge pumping method Keysight/Agilent 81110 & Keysight/Agilent B1500A

2024-05-23(四) 時數:[2024-05-23]郭治群(2.00)
第 15 週

Independent practice

2024-05-30(四) 時數:[2024-05-30]郭治群(2.00)
第 16 週

Final examination 3rd operation examination (Keysight/Agilent 81110, QSCV& Keysight/Agilent B1500A)

2024-06-06(四) 時數:[2024-06-06]郭治群(2.00)
教科書

1. 上課講義 2. Semiconductor Material and Device Characterization

Office Hours
地點
另行約定
時間
另行約定
聯絡方式
email: jcguo@nycu.edu.tw Tel: 03-5131368