2 項進行中

115-1 選課時程

進行中

  • 初選第一階段 6/15 – 6/18
  • 初選第二階段 6/22 – 6/25
  • 校際選修 進行中 8/24 – 9/18
  • 初選第三階段 8/31 – 9/3
  • 開學後加退選 進行中 9/7 – 9/21
  • 逾期加退選 9/21 – 9/24
選課資源

加入行事曆

選擇訂閱 Google Calendar,或下載通用的 ICS 檔案。

使用 Google Calendar 時,Google 會收到這份課表的公開連結。

高功率元件電性測量技術與實驗

Electrical Characterization Technology and Laboratory of Power Devices

學期
112-2
學分
0 學分
當期課號
535219
永久課號
EEIE30082
開課單位
電子研究所
授課教師
吳添立、崔秉鉞
校區
光復
類別
選修
上課時間表
週二
週五
2
09:00–09:50
高功率元件電性測量技術與實驗
ED101(光復)
7
15:30–16:20
高功率元件電性測量技術與實驗
ED101(光復)
2 節連堂
8
16:30–17:20

* 根據陽明交大上課時間表所列

概述

本課程分教室課與實作課兩部份。教室課講述高功率元件重要電性參數測量方法與原理,包括載子濃度、載子遷移率、片電阻、接觸電阻、二極體基本特性、電晶體基本特性、高電流/電壓測量、崩潰電壓、MOS電容、介電層/半導體介面缺陷、半導體晶體缺陷、功率元件切換特性等等。藉由實際操作,使學生更能體會元件物理課程講授的內容,並培養熟悉高功率測試系統架構與安全操作能力的研究人員。

先修科目

已修畢或同時選修課程內容為半導體元件物理的課程至少一學期。

備註

無備註

教學方式

a、 每週二小時教室課,講授測量原理。 b、 平均每週三小時實作課,由助教示範後,學生親自進行電性測量。 c、 限額15人,優先順序為:第一順位是電研所和國半院(含錄取新生),第二順位是電機院和產創院(含錄取新生),第三順位是校內其它單位,第四順位是校外選修。

評分方式

a、 筆試: 40% b、 儀器設備操作: 40% c、 實驗報告: 20%

課程大綱

教師未提供此項資料

週次計畫
週次主題
第 1 週

Introduction

2024-02-20(二),2024-02-23(五)
第 2 週

Electrical Measurement and GPIB Operation

2024-02-27(二),2024-03-01(五)
第 3 週

Sheet Resistance, Carrier Concentration, and Contact Resistance

2024-03-05(二),2024-03-08(五)
第 4 週

Diode Characterization (PiN and SBD)

2024-03-12(二),2024-03-15(五)
第 5 週

MOSFET Characterization and External Resistance Extraction

2024-03-19(二),2024-03-22(五)
第 6 週

High Current and High Voltage Measurement

2024-03-26(二),2024-03-29(五)
第 7 週

Independent Practice

2024-04-02(二),2024-04-05(五)
第 8 週

1st Written Examination and Practical Test

2024-04-09(二),2024-04-12(五)
第 9 週

MOS Capacitor Characterization

2024-04-16(二),2024-04-19(五)
第 10 週

Interface State Extraction - C-V and Conductance Methods

2024-04-23(二),2024-04-26(五)
第 11 週

Interface State Extraction - Charge Pumping Technique

2024-04-30(二),2024-05-03(五)
第 12 週

Dynamic Characterization

2024-05-07(二),2024-05-10(五)
第 13 週

Dynamic Characterization

2024-05-14(二),2024-05-17(五)
第 14 週

DLTS Characterization

2024-05-21(二),2024-05-24(五)
第 15 週

DLTS Characterization

2024-05-28(二),2024-05-31(五)
第 16 週

Independent Practice

2024-06-04(二),2024-06-07(五)
第 17 週

2nd Written Examination and Practical Test

2024-06-11(二),2024-06-14(五)
教科書

使用自編講義。 參考資料: Semiconductor Material and Device Characterization, by Dieter K. Schroderor 3rd ed. Operation Manuals and Application Notes of Instruments

Office Hours
地點
另行約定。
時間
另行約定。
聯絡方式
崔秉鉞教授:bytsui@nycu.edu.tw 吳添立教授:tlwu@nycu.edu.tw