顯微技術物理
Physics of Microscopy
| 節 | 週五 |
|---|---|
5 13:20–14:10 | 顯微技術物理 SC162（光復） 3 節連堂 |
6 14:20–15:10 | |
7 15:30–16:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
Optical Microscope (OM) 鍾介文 Scanning Electron Microscope (SEM) 連德軒 Scanning Tunneling Microscope (STM) 林俊良 Transmission Electron Microscope (TEM) 客座: 周苡嘉 Atomic Force Microscope (AFM) 客座:陳祺 Physics of the microscope / sample prep / analysis of the image / add-on measurements / case study 儀器原理 / 如何準備樣本 / 如何分析影像 / 附加量測 / 實例分享 2~3 weeks each 每一種顯微術2~3次課 Lecture, visit, and lab 講課 / 參訪看顯微鏡本體 / 實驗
University Physics 普通物理 Optics 光學 Electromagnetism 電磁學 Math for physics and engineering 物理/工程數學
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| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | Introduction 介紹 Rules 規則 Assessment 評量 2024-02-23(五) 時數：[2024-02-23]鍾介文(3.00) 林俊良(3.00) 連德軒(3.00) |
| 第 2 週 | [Optical Microscope 光學顯微鏡] Sample Prep 處理樣本 - Transparent 透明 - Translucent 半透明 - Opaque 不透明 - Reflective 會反射光 - Scale: Diffraction Limit 尺度:繞射極限 2024-03-01(五) 時數：[2024-03-01]鍾介文(3.00) |
| 第 3 週 | [Optical Microscope 光學顯微鏡] Microscope 顯微鏡 - Light path 光路 - Objective 物鏡 - Eye piece 目鏡 - Condenser 聚光鏡 - Add-on 配件 2024-03-08(五) 時數：[2024-03-08]鍾介文(3.00) |
| 第 4 週 | [Optical Microscope 光學顯微鏡] Technique 技術 - Transmission mode 穿透光 - Reflection mode 反射光 - Bright field 明視野 - Dark field 暗視野 - Oblique light 測向打光 - Polarized light 偏極光 2024-03-15(五) 時數：[2024-03-15]鍾介文(3.00) |
| 第 5 週 | [Optical Microscope 光學顯微鏡] Fancy Design 厲害顯微鏡設計 - Polarised optical microscopy (POM) - Phase contrast microscopy (PCM) - Differential interference contrast microscopy (DIC) 2024-03-22(五) 時數：[2024-03-22]鍾介文(3.00) |
| 第 6 週 | [Optical Microscope 光學顯微鏡] Hand-on Practices 實驗練習 A little conference on optical microscopy 實驗成果研討會 2024-03-29(五) 時數：[2024-03-29]鍾介文(3.00) |
| 第 7 週 | Scanning Electron Microscope (SEM) 連德軒 Physics of the microscope / sample prep / analysis of the image / add-on measurements / case study 儀器原理 / 如何準備樣本 / 如何分析影像 / 附加量測 / 實例分享 2024-04-05(五) |
| 第 8 週 | Scanning Tunneling Microscope (STM) 林俊良 Physics of the microscope / sample prep / analysis of the image / add-on measurements / case study 儀器原理 / 如何準備樣本 / 如何分析影像 / 附加量測 / 實例分享 2024-04-12(五) |
| 第 9 週 | Transmission Electron Microscope (TEM) 客座: 周苡嘉 Physics of the microscope / sample prep / analysis of the image / add-on measurements / case study 儀器原理 / 如何準備樣本 / 如何分析影像 / 附加量測 / 實例分享 2024-04-19(五) |
| 第 10 週 | Atomic Force Microscope (AFM) 客座:陳祺 Physics of the microscope / sample prep / analysis of the image / add-on measurements / case study 儀器原理 / 如何準備樣本 / 如何分析影像 / 附加量測 / 實例分享 2024-04-26(五) |
| 第 11 週 | 2024-05-03(五) |
| 第 12 週 | 2024-05-10(五) |
| 第 13 週 | 2024-05-17(五) |
| 第 14 週 | 2024-05-24(五) |
| 第 15 週 | 2024-05-31(五) |
| 第 16 週 | 2024-06-07(五) |
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