元件電路計測實驗
Device and Circuit Characterization Laboratory
| 節 | 週四 |
|---|---|
5 13:20–14:10 | 元件電路計測實驗 3 節連堂 |
6 14:20–15:10 | |
7 15:30–16:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
1. 了解各種精密阻抗、電壓、電容、電流測量儀器之原理,以及經由實習課程培訓測量儀器之操作與 數據分析。 2. 了解基本半導體元件特性以及物理參數之測量原理與擷取方法。
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無備註
1. 每週兩小時教室課,解說參數擷取原理以及測試結構。 2. 每週兩小時實作教學,由助教示範儀器操作,之後個別找時間練習。 3. 限額40人,優先順序為:電研所學生、電機系學生、電研所甄試錄取生、電機學院學生、本校研究生、本校研究所甄試錄取生、外校學生。 TA : 禚鎮毅/ vincent89121.ee07@nycu.edu.tw
期中考與期末考: 30% 儀器操作測驗(3次) : 40% 單元實驗報告,一組一份 : 30%
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| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | Introduction 2024-09-04(三) |
| 第 2 週 | Low Level measurement / Probe station setup 2024-09-11(三) |
| 第 3 週 | Sheet resistance & Contact Resistance / Agilent B1500A 2024-09-18(三) |
| 第 4 週 | GPIB operation & Program control / LabVIEW 實作 2024-09-25(三) |
| 第 5 週 | Schottky junction & pn junction / Agilent B1500A 2024-10-02(三) |
| 第 6 週 | Holiday 2024-10-09(三) |
| 第 7 週 | 筆試 / 1st operation examination 2024-10-16(三) |
| 第 8 週 | MOS capacitor characterization / Agilent B1500A (CMU) 2024-10-23(三) |
| 第 9 週 | Independent practice 2024-10-30(三) |
| 第 10 週 | MOSFET characterization & Mobility extraction / Agilent B1500A (CMU) 2024-11-06(三) |
| 第 11 週 | External resistance extraction / Agilent B1500A 2024-11-13(三) |
| 第 12 週 | Interface state extraction – CV method / Agilent B1500A (CMU) 2024-11-20(三) |
| 第 13 週 | 2nd operation examination 2024-11-27(三) |
| 第 14 週 | Interface state extraction – Conductance method / Agilent B1500A (CMU) 2024-12-04(三) |
| 第 15 週 | Interface state extraction – Charge pumping method / Agilent 81110 & Agilent B1500A 2024-12-11(三) |
| 第 16 週 | 筆試/ 3rd operation exam 2024-12-18(三) |
1. 上課講義 2. Semiconductor Material and Device Characterization
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- 時間
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- 聯絡方式
- email: jcguo@nycu.edu.tw Tel: 03-5131368 email: tlwu@nycu.edu.tw Tel: 03-5712121#59442