2 項進行中

115-1 選課時程

進行中

  • 初選第一階段 6/15 – 6/18
  • 初選第二階段 6/22 – 6/25
  • 校際選修 進行中 8/24 – 9/18
  • 初選第三階段 8/31 – 9/3
  • 開學後加退選 進行中 9/7 – 9/21
  • 逾期加退選 9/21 – 9/24
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精密光學檢測

Precision Optical Inspection

學期
114-1
學分
0 學分
當期課號
556101
永久課號
ENAP30041
開課單位
工學院碩士在職專班-精密組
授課教師
黃正昇
校區
光復
類別
選修
上課時間表
週一
A
18:30–19:20
精密光學檢測
EE230(光復)
3 節連堂
B
19:30–20:20
C
20:30–21:20

* 根據陽明交大上課時間表所列

概述

本課程探討精密光學檢測技術的基本原理、系統設計與應用,涵蓋基於不同光學機制的量測方法,包含干涉、偏振、光譜分析、光纖感測、雷射掃描與影像處理等技術。學生將學習如何將這些技術應用於微奈米、半導體檢測、生醫檢測及光學元件檢測等領域。

先修科目

普通物理

備註

無備註

教學方式

相關注意事項將公告於E3

評分方式

作業20%、期中考30%、期末考30%、報告20%

課程大綱
  • 光學基礎理論

    光學元件與系統、干涉、繞射、偏振

  • 光學檢測技術

    基於不同光學機制的量測方法,包含干涉、偏振、光譜分析、自動化光學檢測等

  • 光學精密檢測應用

    半導體製造檢測、精密光學元件檢測、生醫光學檢測、光纖檢測

  • 計量學

    量測理論、誤差、測量系統特性與校準

週次計畫
週次主題
第 1 週

課程介紹、計量學及量測基礎

第 2 週

光學基礎理論:干涉、繞射、偏振

第 3 週

光學基礎理論:干涉、繞射、偏振

第 4 週

光學檢測系統

第 5 週

干涉測量技術與應用

第 6 週

偏振量測技術與應用

第 7 週

光譜分析與色彩測量

第 8 週

期中考試

第 9 週

自動化光學檢測

第 10 週

半導體與精密製造檢測

第 11 週

精密光學元件檢測

第 12 週

光纖感測器及應用

第 13 週

生醫光學檢測

第 14 週

專題報告發表

第 15 週

專題報告發表

第 16 週

期末考試

教科書

自製講義及參考書籍

Office Hours
地點
EE478
時間
每周三下午1:30-3:30或Walk-ins or appointments
聯絡方式
csh@nycu.edu.tw or 03-5712121 55108