2 項進行中

115-1 選課時程

進行中

  • 初選第一階段 6/15 – 6/18
  • 初選第二階段 6/22 – 6/25
  • 校際選修 進行中 8/24 – 9/18
  • 初選第三階段 8/31 – 9/3
  • 開學後加退選 進行中 9/7 – 9/21
  • 逾期加退選 9/21 – 9/24
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高功率元件電性測量技術與實驗

Electrical Characterization Technology and Laboratory of Power Devices

學期
114-2
學分
3 學分
當期課號
535216
永久課號
EEIE30082
開課單位
電子研究所
授課教師
吳添立、崔秉鉞
校區
光復
類別
選修
上課時間表
週二
週五
2
09:00–09:50
高功率元件電性測量技術與實驗
ED101(光復)
7
15:30–16:20
高功率元件電性測量技術與實驗
ED101(光復)
2 節連堂
8
16:30–17:20

* 根據陽明交大上課時間表所列

概述

本課程分教室課與實作課兩部份。教室課講述高功率元件重要電性參數測量方法與原理,包括載子濃度、載子遷移率、片電阻、接觸電阻、二極體基本特性、電晶體基本特性、高電流/電壓測量、崩潰電壓、MOS電容、介電層/半導體介面缺陷、半導體晶體缺陷、功率元件切換特性等等。藉由實際操作,使學生更能體會元件物理課程講授的內容,並培養熟悉高功率測試系統架構與安全操作能力的研究人員。

先修科目

已修畢或同時選修課程內容為半導體元件物理的課程至少一學期,修過高功率半導體元件物理更佳。

備註

無備註

教學方式

a、 每週二小時教室課,講授測量原理。 b、 平均每週三小時實作課,由助教示範後,學生親自進行電性測量。 c、 第一順位是電研所學生(含錄取新生),第二順位是電機學院學生,第三順位是國半院和產創院學生(含錄取新生),第四順位是校內其它單位學生。若到某順位超額,從該順位選修人抽籤至額滿為止。未能選課的同學,請詳述修課理由,由授課老師決定是否加簽。

評分方式

a、 實作報告: 30% b、 儀器設備操作: 40% c、 筆試: 30%

課程大綱

教師未提供此項資料

週次計畫
週次主題
第 1 週

Introduction

2026-02-24(二),2026-02-27(五)
第 2 週

Electrical Measurement and GPIB Operation

2026-03-03(二),2026-03-06(五)
第 3 週

Sheet Resistance, Carrier Concentration, and Contact Resistance

2026-03-10(二),2026-03-13(五)
第 4 週

Diode Characterization (PiN and SBD)

2026-03-17(二),2026-03-20(五)
第 5 週

MOSFET Characterization

2026-03-24(二),2026-03-27(五)
第 6 週

High Current and High Voltage Measurement

2026-03-31(二),2026-04-03(五)
第 7 週

Independent Practice

2026-04-07(二),2026-04-10(五)
第 8 週

1st Written Examination and Practical Test

2026-04-14(二),2026-04-17(五)
第 9 週

MOS Capacitor Characterization

2026-04-21(二),2026-04-24(五)
第 10 週

Interface State Extraction - C-V and Conductance Methods

2026-04-28(二),2026-05-01(五)
第 11 週

Interface State Extraction - Charge Pumping Technique

2026-05-05(二),2026-05-08(五)
第 12 週

Dynami Characterization

2026-05-12(二),2026-05-15(五)
第 13 週

Dynamic Characterization

2026-05-19(二),2026-05-22(五)
第 14 週

DLTS Characterization

2026-05-26(二),2026-05-29(五)
第 15 週

DLTS Characterization

2026-06-02(二),2026-06-05(五)
第 16 週

Independent Practice

2026-06-09(二),2026-06-12(五)
第 17 週

2nd Written Examination and Practical Test

2026-06-16(二),2026-06-19(五)
教科書

使用自編講義。 參考資料: Semiconductor Material and Device Characterization, by Dieter K. Schroderor 3rd ed. Operation Manuals and Application Notes of Instruments

Office Hours
地點
另行約定。
時間
另行約定。
聯絡方式
崔秉鉞教授:bytsui@nycu.edu.tw 吳添立教授:tlwu@nycu.edu.tw