2 項進行中

115-1 選課時程

進行中

  • 初選第一階段 6/15 – 6/18
  • 初選第二階段 6/22 – 6/25
  • 校際選修 進行中 8/24 – 9/18
  • 初選第三階段 8/31 – 9/3
  • 開學後加退選 進行中 9/7 – 9/21
  • 逾期加退選 9/21 – 9/24
選課資源

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奈米級CMOS晶片製造

Nanoscale CMOS Manufacturing

學期
114-2
學分
3 學分
當期課號
535218
永久課號
EEIE30083
開課單位
電子研究所
授課教師
林鴻志
校區
光復
類別
選修
上課時間表
週四
6
14:20–15:10
奈米級CMOS晶片製造
ED220(光復)
3 節連堂
7
15:30–16:20
8
16:30–17:20

* 根據陽明交大上課時間表所列

概述

本課程講述先進CMOS積體電路製造技術的演進,及過程中電晶體 微縮所遭遇到的問題,包括短通道效應、熱載子效應、寄生電阻/電容、功率耗損等,以及用來解決這些問題的策略,包括使用製程、材料、設備、與新結構/設計等方法,並講述其基本原理與限制。課程的重點是100奈米以下尺寸製造技術,特別是FinFET與GAA等新式元件結構的應用。從1960第一顆MOSFET問世,1980年CMOS成為主流,到現在進入非平面的元件架構,積體電路製造技術的內涵變化甚鉅,透過此課程的說明分析,搭配相關元件物理與先進製程的介紹,讓修習本課程的學生得以了解技術的發展與走向趨勢。

先修科目

已修畢半導體元件物理一學期,及修畢或同時選修積體電路製程或同類課程一學期。

備註

無備註

教學方式

每週三小時教室上課

評分方式

a、 筆試(兩次期中考、一次期末考): 90% b、 課堂表現: 10%

課程大綱

教師未提供此項資料

週次計畫
週次主題
第 1 週

CMOS Fundamentals: An overview

2026-02-26(四)
第 2 週

CMOS Fundamentals: Device Scaling Trends and Issues (I)

2026-03-05(四)
第 3 週

Planar CMOS: Device Scaling Trends and Issues (II)

2026-03-12(四)
第 4 週

Planar CMOS: Deep Sub-micron Technology

2026-03-19(四)
第 5 週

Planar CMOS: Nanoscale Technology

2026-03-26(四)
第 6 週

Midterm I

2026-04-02(四)
第 7 週

SOI CMOS: An Overview

2026-04-09(四)
第 8 週

Nanoscale SOI CMOS Technology

2026-04-16(四)
第 9 週

FinFET Technology: Operation Principles

2026-04-23(四)
第 10 週

FinFET Technology: Device Fabrication and Structure Evolution

2026-04-30(四)
第 11 週

FinFET Technology: Scaling Trends and Issues

2026-05-07(四)
第 12 週

Midterm II

2026-05-14(四)
第 13 週

FinFET Technology: Practical Manufacturing

2026-05-21(四)
第 14 週

Gate-all-around Device Technology: Process Integration

2026-05-28(四)
第 15 週

Gate-all-around Device Technology: Scaling Trends and Issues

2026-06-04(四)
第 16 週

Final Exam

2026-06-11(四)
教科書

使用自編講義。

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地點
第一堂課上課時宣布
時間
第一堂課上課時宣布
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