電子顯微鏡學
Transmission Electron Microscopy
學期
114-2
學分
3
學分
當期課號
536304
永久課號
ENMS30052
開課單位
前瞻半導體研究所、材料科學與工程學系
授課教師
立、張
校區
光復
類別
選修
上課時間表
| 節 | 週五 |
|---|---|
5 13:20–14:10 | 電子顯微鏡學 EF205（光復） 3 節連堂 |
6 14:20–15:10 | |
7 15:30–16:20 |
* 根據陽明交大上課時間表所列
概述
了解基本顯微鏡結構，學習成像與繞射、X光能譜與電子能量損失能譜之原理及研判相關數據。
先修科目
材料科學導論、普通物理
備註
無備註
教學方式
教師未提供此項資料
評分方式
4次作業 (40%) 、期中考 (20%)、期末考(20%)
課程大綱
教師未提供此項資料
週次計畫
| 週次 | 主題 |
|---|---|
| 第 1 週 | 放假 2026-02-27(五) |
| 第 2 週 | 課程概述 SEM 儀器 電子束與材料之相互作用 2026-03-06(五) |
| 第 3 週 | SEM成像原理 2026-03-13(五) |
| 第 4 週 | TEM 基本 儀器構造 試片製備 2026-03-20(五) |
| 第 5 週 | 散射與繞射 2026-03-27(五) |
| 第 6 週 | 繞射圖型 2026-04-03(五) |
| 第 7 週 | 繞射圖型 2026-04-10(五) |
| 第 8 週 | TEM/STEM 成像對比 BF/DF 影像 2026-04-17(五) |
| 第 9 週 | 期中考 2026-04-24(五) |
| 第 10 週 | 微結構影像 2026-05-01(五) |
| 第 11 週 | 微結構影像 平面缺陷 2026-05-08(五) |
| 第 12 週 | 微結構影像 差排與應變 2026-05-15(五) |
| 第 13 週 | HRTEM 2026-05-22(五) |
| 第 14 週 | X-ray energy dispersive spectroscopy 2026-05-29(五) |
| 第 15 週 | Electron energy loss spectroscopy 2026-06-05(五) |
| 第 16 週 | 期末考 2026-06-12(五) |
教科書
1. David B. Williams and C. Barry CarterTransmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science, 2nd edition (2009) Springer. 2. C. Barry Carter · David B. Williams (Eds.) Transmission Electron Microscopy - Diffraction, Imaging, and Spectrometry (2016) springer
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- EF327
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