材料微觀結構分析

Microstructural Characterization of Materials

學期

115-1

學分

3 學分

當期課號

516308

永久課號

ENMS20004

開課單位

材料科學與工程學系跨域學程(A)本系學生、材料科學與工程學系、材料科學與工程學系跨域學程(B)外系學生、半導體工程學系

授課教師

吳文偉

校區

光復

類別

選修

上課時間表

* 根據陽明交大上課時間表所列

概述

使學生瞭解常用的材料結構分析方式、儀器及其原理，並體驗設備操作的方法。

先修科目

材料科學導論普通物理物理冶金

備註

無備註

教學方式

課堂授課儀器觀摩

評分方式

Quiz and Homework: 20% Midterm Exam: 40% Final Exam: 40%

課程大綱

教師未提供此項資料

週次計畫

週次	主題
第 1 週	材料分析簡介(Introduction) 2026-09-08(二)
第 2 週	晶體結構(Crystal Structure) 2026-09-15(二)
第 3 週	中秋節(id-Autumn Festival) 2026-09-22(二)
第 4 週	X光繞射分析儀 (X-ray Diffractometer, XRD) 2026-09-29(二)
第 5 週	X光繞射分析儀 (X-ray Diffractometer, XRD)　儀器觀摩及示範教學 2026-10-06(二)
第 6 週	穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) 2026-10-13(二)
第 7 週	穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) 2026-10-20(二)
第 8 週	期中考試(Midterm Exam) 2026-10-27(二)
第 9 週	穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) 2026-11-03(二)
第 10 週	穿透式電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope, TEM) 2026-11-10(二)
第 11 週	穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)儀器觀摩及示範教學 2026-11-17(二)
第 12 週	掃描式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope, SEM) 2026-11-24(二)
第 13 週	掃描式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope, SEM) 2026-12-01(二)
第 14 週	X光能譜分析儀 (X-ray Spectrometry) 2026-12-08(二)
第 15 週	掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)　及X光能譜分析儀 (X-ray Spectrometry)儀器觀摩及示範教學 2026-12-15(二)
第 16 週	期末考試(nal Exam) 2026-12-22(二)
第 17 週	進度及教材補充 2026-12-29(二)
第 18 週	進度及教材補充 2027-01-05(二)

教科書

材料分析，汪建民，中國材料科學學會。材料電子顯微鏡學，陳力俊，國科會精儀中心。

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