2 項進行中

115-1 選課時程

進行中

  • 初選第一階段 6/15 – 6/18
  • 初選第二階段 6/22 – 6/25
  • 校際選修 進行中 8/24 – 9/18
  • 初選第三階段 8/31 – 9/3
  • 開學後加退選 進行中 9/7 – 9/21
  • 逾期加退選 9/21 – 9/24
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VLSI測試與可測試性設計

VLSI Testing and Design for Testability

學期
115-1
學分
3 學分
當期課號
535231
永久課號
EEIE30069
開課單位
前瞻半導體研究所、電子研究所
授課教師
趙家佐
校區
光復
類別
選修
上課時間表
週一
2
09:00–09:50
VLSI測試與可測試性設計
ED301(光復)
3 節連堂
3
10:10–11:00
4
11:10–12:00

* 根據陽明交大上課時間表所列

概述

Testing has becoming more and more importatnt as chip complexity grows. This course will contain topics related to VLSI testing, such as logic simulation, fault modeling, fault simulation, ATPG, BIST, etc. 電子研究所希望培育學生具備十項核心能力及三項基本素養(請參官網http://www.ee.nctu.edu.tw首頁之【學術研究】→【IEET】內容。 ※本課程將培育學生具備下述幾項核心能力: 1.1 固態電子或電路系統相關專業知識之能力 1.2 固態電子或電路系統之設計、實驗及分析數據之能力,並具有發掘、分析、獨立解決問題及創新思考的能力 1.3 使用電腦輔助軟體、儀器等工具的能力 ※本課程將培育學生具備下述幾項基本素養: 1 養成學生具備電子工程基礎與專業知識,並配合實作,達到理論與實務相結合之目的。使學生具備推論、分析、創新及整合能力。

先修科目

Logic Design, Computer Programming Language C or C++

備註

無備註

教學方式

教師未提供此項資料

評分方式

作業: Eight programming assignments 考試: Paper tests for midterm and final 評量: Midterm 30% Final 30% Assignments 40%

課程大綱

教師未提供此項資料

週次計畫
週次主題
第 1 週

1. Course overview, Introduction to data structures of a gate-level netlist parser 2. Introduction to test process

第 2 週

Logic Simulation

第 3 週

Fault Modeling

第 4 週

Holiday: Teachers' Day

第 5 週

1. Fault Modeling 2. Fault Simulation

第 6 週

1. Fault Simulation 2. Comb ATPG

第 7 週

Comb ATPG

第 8 週

Holiday: Taiwan Retrocession Day

第 9 週

Midterm Exam

第 10 週

Comb ATPG

第 11 週

1. Testability Analysis 2. Seq ATPG

第 12 週

1. Seq ATPG 2. DFT

第 13 週

1. DFT 2. BIST

第 14 週

Test Compression

第 15 週

Test Compression

第 16 週

Final Exam

第 17 週

1. Lab1 2. Lab2

2026-12-28(一)
教科書

# VLSI Test Principles and Architectures, Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen, Morgan Kauffman 2006. # Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits, M. Bushnell and V. Agrawal, Kluwer Academic Publishers, 2000. # Testing of Digital Systems, N. K. Jha and S. Gupta, Cambridge University Press, 2003. # Digital Systems Testing and Testable Design , M. Abramovici, M. A. Breuer and A. D. Friedman, IEEE Press, 1990.

Office Hours
地點
@ED612 (ext. 54178)
時間
email appointment
聯絡方式
Teacher : mango@nycu.edu.tw TA : ymcheng.ee14@nycu.edu.tw